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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
| 更新時(shí)間 | 2026-03-02 |
|---|---|
| 訪問次數(shù) | 893 |
| 產(chǎn)品型號(hào) | PCT |
| 品牌 | 榮計(jì)達(dá)儀器 | 換氣率 | 水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)次/小時(shí) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 溫度均勻度 | 土0.5℃ |
| 溫度波動(dòng)度 | 土0.5℃℃ | 溫度范圍 | +105℃～+132℃℃ |
| 工作室尺寸（L×W×H） | φ400*475mmmm | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
| 最高溫度 | 可定制 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣,綜合 |
一、高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品簡介：
PCT 高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱(又稱“PCT試驗(yàn)箱"):是由一個(gè)圓形的壓力容器及水加熱系統(tǒng)組成。主要用于測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
二、高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
1、外形尺寸：1920*1920*950mm
2、內(nèi)箱尺寸：φ400*475mm
3、溫度范圍：+105℃～+132℃
4、溫度波動(dòng)度：土0.5℃
5、溫度均勻度：±2℃
6、安全壓力容量:4kg/cm?=1個(gè)環(huán)境大氣壓+3kg/cm?
7、循環(huán)方式：水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)
8、測(cè)時(shí)間設(shè)置：0～999Hr
9、加壓時(shí)間：0.00kg/cm?～2.00kg/cm?約45分鐘
10、升溫時(shí)間：由常溫升至+132℃約35分鐘內(nèi)非線性空載
11、溫度變化速率：空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率
三、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3.精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200H
4.自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)
5.箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，PACKING會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長PACK-ING壽命。
6.實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(PARTICAL<1MICORN)。以確保箱內(nèi)之純凈度
7.臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示，PCT試驗(yàn)箱可以加速試驗(yàn)，縮短試驗(yàn)時(shí)間
